高分辨率、高精度與高效率的結(jié)合，正重新定義光學(xué)測量的邊界。

在現(xiàn)代工業(yè)與科研領(lǐng)域，光的精確測量已成為顯示技術(shù)、照明工程、材料科學(xué)等多個(gè)行業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵。傳統(tǒng)單點(diǎn)測量設(shè)備已難以滿足對復(fù)雜表面光學(xué)特性全面分析的需求。

TOPCON拓普康的二維光譜輻射計(jì)應(yīng)運(yùn)而生，以其面測量技術(shù)實(shí)現(xiàn)了從“點(diǎn)"到“面"的跨越，為光學(xué)測量設(shè)立了新標(biāo)準(zhǔn)。

01 產(chǎn)品系列與架構(gòu)：從SR-5000到SR-5100的技術(shù)演進(jìn)

TOPCON拓普康二維光譜輻射計(jì)產(chǎn)品線主要包含SR-5000/5000H和SR-5100等多個(gè)型號，滿足不同場景下的精確測量需求。

SR-5000系列作為基礎(chǔ)型號，配備了140萬像素彩色CCD圖像傳感器，有功像素達(dá)1376×1024，數(shù)據(jù)位為14bit，能夠捕捉細(xì)致的光學(xué)信息。

而SR-5100則實(shí)現(xiàn)了技術(shù)飛躍，將分辨率提升至500萬像素(2448×2048)，實(shí)現(xiàn)了更高精度的二維分光測量。

這些儀器采用非破壞、非接觸的測量方式，可同時(shí)對500萬點(diǎn)進(jìn)行分光測量，準(zhǔn)確分析光源的光譜特性、材料分光穿透率及物體的分光反射率特性。

02 核心技術(shù)特點(diǎn)：精準(zhǔn)測量的科學(xué)基石

TOPCON拓普康二維光譜輻射計(jì)融合了多項(xiàng)技術(shù)，構(gòu)成了其在光學(xué)測量領(lǐng)域的核心競爭力。

高精度分光測量

SR-5000系列采用1nm的分光測光方式，波長精度達(dá)±0.5nm (Hg波寬線上、高精度模式時(shí))，光譜波寬為7nm(半波寬)。

SR-5100更將波長精度提高到±0.3nm，實(shí)現(xiàn)了單點(diǎn)式分光輻射計(jì)同等性能的二維分光測量。

寬廣的測量范圍

SR-5000的測定范圍覆蓋0.5 - 5,000,000 cd/m2，而SR-5100則進(jìn)一步將測量量程提升至170億cd/m2的高亮度范圍。

這種寬廣的量程使得它能夠同時(shí)測量極低亮度和超高亮度的物體，滿足多種條件下的測量需求。

光學(xué)系統(tǒng)

SR-5000標(biāo)準(zhǔn)配置f=32mm對物鏡，搭配廣角輔助鏡時(shí)可達(dá)到f=24mm。

SR-5100則支持分光及XYZ兩種測量模式，可根據(jù)需要發(fā)揮各優(yōu)點(diǎn)的高精度及高速的符合機(jī)型。

03 應(yīng)用領(lǐng)域：多行業(yè)的光學(xué)測量解決方案

TOPCON拓普康二維光譜輻射計(jì)的應(yīng)用范圍廣泛，覆蓋多個(gè)行業(yè)的光學(xué)測量需求。

顯示技術(shù)領(lǐng)域

在顯示技術(shù)領(lǐng)域，它們可用于LCD、OLED、QD、激光、Micro LED及關(guān)聯(lián)材料等的亮度、色度、分光光譜的評價(jià)。

對于快速發(fā)展的Micro/Mini LED顯示屏及相關(guān)材料，也能進(jìn)行精確的光學(xué)特性評估。

汽車照明產(chǎn)業(yè)

汽車產(chǎn)業(yè)同樣受益于這類儀器，可用于汽車儀表盤及內(nèi)外裝照明的發(fā)光分布特性、分光光譜的評價(jià)。

照明設(shè)計(jì)與評價(jià)

LED照明、OLED照明的發(fā)光部的亮度、色度均勻性、分光光譜均勻性的評價(jià)也是其重要應(yīng)用場景。

材料科學(xué)與紡織領(lǐng)域

SR-5100可用于纖維染織物的分光光譜評價(jià)，以及光學(xué)膜及涂層的不均勻、干涉條紋的測量。

醫(yī)療和生物領(lǐng)域

SR-5100HM與顯微鏡結(jié)合，可用于病理組織的染色狀態(tài)的些微差異的解析及量化評價(jià)測量，為醫(yī)療診斷提供重要依據(jù)。

04 創(chuàng)新價(jià)值：推動(dòng)行業(yè)進(jìn)步的技術(shù)催化劑

TOPCON拓普康二維光譜輻射計(jì)不僅僅是一種測量工具，更是推動(dòng)多個(gè)行業(yè)技術(shù)進(jìn)步的催化劑。

其二維分光測量能力使研究人員和工程師能夠直觀看到整個(gè)被測面的光學(xué)特性分布，識別單點(diǎn)測量難以發(fā)現(xiàn)的不均勻性和缺陷。

隨著顯示技術(shù)和照明行業(yè)的快速發(fā)展，對測量儀器提出了更高要求。TOPCON拓普康通過SR-5100等新型號的產(chǎn)品，不斷拓展測量極限，滿足日益增長的高精度、高效率測量需求。

此外，近紅外分光輻射計(jì)SR-NIR的推出，使測量波長范圍擴(kuò)展到380nm-1030nm，滿足了顯示器及照明市場對“近紅外領(lǐng)域"日益增長的測定需求。

從實(shí)驗(yàn)室的精密研究到工業(yè)生產(chǎn)線上的質(zhì)量檢測，TOPCON拓普康二維光譜輻射計(jì)正以其的性能和精確的數(shù)據(jù)，幫助工程師和研究人員解鎖光的奧秘。

正如一位專家所言，這些儀器猶如給科學(xué)家長了“火眼金睛"，讓最細(xì)微的光譜差異也無處可藏。